Атомно-силовая микроскопия

Атомно-силовая микроскопия позволяет исследовать материалы не только с проводящими, но и с диэлектрическими характеристиками.

Анализ структуры поверхностного слоя методом АСМ проводился для композитов на основе ЦЭПС с BaTiO3 в исходном состоянии и после модифицирования введением оксидов кобальта и ниобия. Анализ проводили с использованием сканирующего зондового микроскопа Solver PRO в полуконтактном режиме.

Смотрите также

Новые современные коагулянты в технологии очистки сточных вод
Загрязнение природных вод – основных источников водоснабжения населения приобрело за последние годы, угрожающие размеры. Это особенно относится к сточным водам с фармацевтических и хими ...

Двухупаковочные полиуретановые лакокрасочные материалы
Ни один класс пленкообразователей не обладает таким многообразием свойств, как полиуретаны (ПУ), которые позволяют получать покрытия с заранее заданными свойствами. В настоящее время н ...

Интересное о каучуке
...