Атомно-силовая микроскопия

Атомно-силовая микроскопия позволяет исследовать материалы не только с проводящими, но и с диэлектрическими характеристиками.

Анализ структуры поверхностного слоя методом АСМ проводился для композитов на основе ЦЭПС с BaTiO3 в исходном состоянии и после модифицирования введением оксидов кобальта и ниобия. Анализ проводили с использованием сканирующего зондового микроскопа Solver PRO в полуконтактном режиме.

Смотрите также

Характеристика абсорбционных методов очистки отходящих газов от примесей кислого характера
Грандиозные масштабы производственной деятельности человека привели к большим позитивным преобразованиям в мире – созданию мощного промышленного и сельскохозяйственного потенциала, широкому ...

Проект ректификационной установки непрерывного действия для разделения смеси метиловый - этиловый спирт
Ректификация - массообменный процесс, который осуществляется в большинстве случаев в противоточных колонных аппаратах с контактными элементами (насадки, тарелки), аналогичными используемыми ...

Дериватография
Комплексный метод исследования химических и физико-химических процессов, происходящих в образце в условиях программированного изменения температуры. Основан на сочетании дифференциального термическ ...