Атомно-силовая микроскопия позволяет исследовать материалы не только с проводящими, но и с диэлектрическими характеристиками.
Анализ структуры поверхностного слоя методом АСМ проводился для композитов на основе ЦЭПС с BaTiO3 в исходном состоянии и после модифицирования введением оксидов кобальта и ниобия. Анализ проводили с использованием сканирующего зондового микроскопа Solver PRO в полуконтактном режиме.
Характеристика абсорбционных методов очистки отходящих газов от примесей кислого характера
Грандиозные
масштабы производственной деятельности человека привели к большим позитивным
преобразованиям в мире – созданию мощного промышленного и сельскохозяйственного
потенциала, широкому ...
Проект ректификационной установки непрерывного действия для разделения смеси метиловый - этиловый спирт
Ректификация - массообменный процесс, который осуществляется в большинстве
случаев в противоточных колонных аппаратах с контактными элементами (насадки,
тарелки), аналогичными используемыми ...
Дериватография
Комплексный метод
исследования химических и физико-химических процессов, происходящих в образце в
условиях программированного изменения температуры. Основан на сочетании
дифференциального термическ ...