|
|
Рисунок 3. СТМ изображение простого "hut" островка, полученного напылением чистого Ge на Si(100). Высота островка ~3 нм, основание 20 и 40 нм. Плоскости огранки островка имеют направление {105}.
С ростом средней толщины пленки в дополнение к граням {105} картины ДБЭ показывают появление граней {113} и {102}. Эта стадия роста характеризуется как формирование "dome" - кластеров, рис.4. Переход от "hut" - кластеров размером в основании 15 - 20 нм к "dome" - кластерам (средние размеры 50 - 100 нм) сопровождается увеличением степени релаксации механических напряжений. По данным Floro et al. материал в кластерах типа "hut" упруго релаксирован в среднем на 20%, тогда как в островках типа "dome" из-за большего отношения высоты к основанию релаксация составляет более чем 50%, при этом островки остаются по-прежнему когерентно сопряженными с подложкой.
Рисунок 4. Изображение "Dome" островка с веденными дислокациями несоответствия[].
Как показывают многочисленные экспериментальные наблюдения, последней стадией развития морфологии и структуры островков GexSi1-x на Si (001) и (111) является образование трехмерных пластически - деформированных островков с ДН в границе раздела с подложкой, сопровождающееся быстрым увеличением их размеров (см. например, [, ]).
Фальсификация бензинов
Фальсификация в России автомобильного топлива - национальная
традиция. Говорят, сейчас только в странах Западной Европы можно заправиться
настоящим бензином, отвечающим всем необходимым тр ...
Определение карбонильных и карбоксильных групп в целлюлозе
Природная
целлюлоза характеризуется незначительным содержанием карбонильных групп.
Кетонные и карбоксильные группы в ней практически отсутствуют. При получении
технической целлюлозы из раст ...
Биокерамика на основе фосфатов кальция
В последние годы значительное
внимание уделяется созданию керамических материалов медицинского назначения, предназначенных
для использования при реконструкции дефектов костных тканей, образу ...